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封測(cè)服務(wù)
方案設(shè)計(jì) 晶圓測(cè)試 芯片封裝 成品測(cè)試 質(zhì)量檢測(cè) 倉(cāng)儲(chǔ)直發(fā)
成品測(cè)試
兼容、高效

1、采用Chroma、ACCO、久元等兼容性強(qiáng)、高性價(jià)比的測(cè)試平臺(tái),覆蓋數(shù)字、模擬、混合信號(hào)、射頻、功率器件、模塊產(chǎn)品測(cè)試,精準(zhǔn)高效、穩(wěn)定可靠。

2、支持轉(zhuǎn)塔式、平移式、重力式測(cè)試,8 site高效同測(cè)等。

測(cè)試能力與設(shè)備介紹
成品測(cè)試機(jī)臺(tái)
3380P
成品測(cè)試機(jī)臺(tái)
3380D
成品測(cè)試機(jī)臺(tái)
S50
成品測(cè)試機(jī)臺(tái)
8200
成品測(cè)試機(jī)臺(tái)
德律
成品測(cè)試機(jī)臺(tái)
STATEK
成品測(cè)試機(jī)臺(tái)
TR6836S Ⅱ